美國博曼出品C30-P1探頭,用于配置博曼BM-C30銅箔厚度測試儀,測量PCB表面銅箔的厚度創(chuàng)新的設(shè)計,確保探頭可以垂直測量,獲得更高的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
C30-P1探頭的特點:
快速,準(zhǔn)確,非破壞性檢測銅箔厚度,透明保護罩,確保探頭可以垂直測量,可更換式T1探針,用戶簡易更換,降低使用成本,柔軟,高強抗拉導(dǎo)線,堅實耐用,彈性伸縮接觸式探針避免銅箔劃傷,將銅針放到銅箔表面開始測量。
供應(yīng)美國博曼原裝進口C30-P1探頭
2022-04-22 02:20 507次瀏覽美國博曼出品C30-P1探頭,用于配置博曼BM-C30銅箔厚度測試儀,測量PCB表面銅箔的厚度創(chuàng)新的設(shè)計,確保探頭可以垂直測量,獲得更高的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
C30-P1探頭的特點:
快速,準(zhǔn)確,非破壞性檢測銅箔厚度,透明保護罩,確保探頭可以垂直測量,可更換式T1探針,用戶簡易更換,降低使用成本,柔軟,高強抗拉導(dǎo)線,堅實耐用,彈性伸縮接觸式探針避免銅箔劃傷,將銅針放到銅箔表面開始測量。
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